Analizzatore di parametri a semiconduttore usato Keithley 4200-SCS

Analizzatore di parametri a semiconduttore usato Keithley 4200-SCS

Il sistema di caratterizzazione dei semiconduttori Keithley 4200-SCS esegue la caratterizzazione DC e di impulsi dei dispositivi di laboratorio, la stampa in tempo reale e l'analisi con alta precisione e risoluzione sub-fem-amp.

introduzione al prodotto

Panoramica del Prodotto

KEITHLEY 4200-SCS

Il sistema di caratterizzazione dei semiconduttori Keithley 4200-SCS esegue la caratterizzazione DC e di impulsi dei dispositivi di laboratorio, la stampa in tempo reale e l'analisi con alta precisione e risoluzione sub-fem-amp. Keithley 4200-SCS offre le funzionalità più avanzate disponibili in un sistema di caratterizzazione completamente integrato, incluso un PC integrato completo con sistema operativo Windows e memoria di massa. La sua interfaccia autocompensante punta e clicca accelera e semplifica il processo di acquisizione dei dati, in modo che gli utenti possano iniziare ad analizzare i loro risultati prima. Funzionalità aggiuntive consentono funzionalità di misurazione delle sollecitazioni adatte a numerosi test di affidabilità, oltre a fornire misurazioni di precisione e alta risoluzione con il supporto del misuratore LCR.


Le caratteristiche del sistema Keithley 4200 includono:

● Ambiente intuitivo, punta e clicca basato su Windows®

● PreAmps remoti unici estendono la risoluzione delle SMU a 0. 1 fA

● Lo strumento CV semplifica le misurazioni CV come DC IV

● Funzionalità Pulse e Pulse IV per test avanzati sui semiconduttori

● La scheda Scope offre funzionalità integrate di portata e misurazione del polso

● Il PC autonomo offre una rapida configurazione dei test, potenti analisi dei dati, rappresentazione grafica e stampa e archiviazione di massa dei risultati dei test a bordo

● L'esclusivo Project Navigator in stile browser organizza i test per tipo di dispositivo, consente l'accesso a più test e fornisce sequenze di test e controllo del looping

● Stress / misura, looping e analisi dei dati integrati per test di affidabilità point-and-click, inclusi cinque test di esempio conformi a JEDEC

● Supporto integrato per una varietà di misuratori LCR, configurazioni a matrice di interruttori Keithley e generatori di impulsi sia della serie Keithley 3400 che di Agilent 81110

● Include driver software per i principali analizzatori analitici

● 2 X 4 2 10-SMU - Due ulteriori schede SMU ad alta potenza da 4 2 10-SMU

● 4 X 4 200-SMU - Quattro 4 200-SMU schede SMU di media potenza


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